分享一個(gè)充電頭外觀瑕疵檢測的新方法

Q397702008 · 發(fā)表于 2021-12-31 11:27:00

最近新搞定的一個(gè)案子,，通過運(yùn)動(dòng)控制來實(shí)時(shí)調(diào)配充電頭表面到2D線掃相機(jī)的距離成像。
一個(gè)線掃相機(jī)代替了多個(gè)面陣相機(jī),。
感覺成本沒省多少,，效率提高了一些

我在或不在呢 · 發(fā)表于 2021-12-31 12:32:25

很有意思，掃描精度咋樣,？外表缺陷掃描最小可達(dá)到絲0.1mm嗎,？

Q397702008 · 發(fā)表于 2021-12-31 15:26:22

我在或不在呢發(fā)表于 2021-12-31 12:32
很有意思，掃描精度咋樣,？外表缺陷掃描最小可達(dá)到絲0.1mm嗎,？

目前精度±0.03mm

遠(yuǎn)祥 · 發(fā)表于 2022-1-6 03:25:05

這個(gè)精度是高啊

懿總W5 · 發(fā)表于 2022-1-25 08:34:18

我在或不在呢發(fā)表于 2021-12-31 12:32
很有意思，掃描精度咋樣,？外表缺陷掃描最小可達(dá)到絲0.1mm嗎,？

笑死人了,，原來絲是0.1mm

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