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XJTUDIC三維數(shù)字散斑動(dòng)態(tài)應(yīng)變測(cè)量分析系統(tǒng) 介紹

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發(fā)表于 2010-7-16 15:07:42 | 只看該作者 回帖獎(jiǎng)勵(lì) |倒序?yàn)g覽 |閱讀模式
概述:
2 w2 `5 Y3 g* ]' K3 t- @- h
& u) ?0 B1 a# H& E; M" k    2007年以來(lái),,國(guó)際上基于數(shù)字圖像相關(guān)法(Digital Image Correlation,DIC)測(cè)量全場(chǎng)應(yīng)變技術(shù),得到了爆炸性發(fā)展和應(yīng)用[參看STRAIN期刊2008年社論],,廣泛應(yīng)用于各個(gè)學(xué)科的研究,,如材料力學(xué)、生物力學(xué)、斷裂力學(xué),、微觀納米應(yīng)變測(cè)量、宏觀大尺寸變形測(cè)量,、各種新材料性能測(cè)試等,。8 K& \' n# l& U
    歡迎各大學(xué)和研究所,基于“XJTUDIC三維數(shù)字散斑動(dòng)態(tài)應(yīng)變測(cè)量分析系統(tǒng)”進(jìn)行跨學(xué)科合作研究,,合作進(jìn)行三維全場(chǎng)應(yīng)變實(shí)驗(yàn),。
8 m/ |! i+ e' A; u    XJTUDIC三維數(shù)字散斑動(dòng)態(tài)應(yīng)變測(cè)量分析系統(tǒng)是一種光學(xué)非接觸式三維形變測(cè)應(yīng)變量系統(tǒng),用于分析,、計(jì)算,、記錄變形數(shù)據(jù)。采用圖形化顯示測(cè)量結(jié)果,,便于更好地理解和分析被測(cè)材料的性能,。系統(tǒng)識(shí)別測(cè)量物體表面結(jié)構(gòu)的數(shù)字圖像,為圖像像素計(jì)算坐標(biāo),,測(cè)量工程的第一個(gè)圖像表示為未變形狀態(tài),。在被測(cè)物體變形過(guò)程中或者變形之后,采集連續(xù)的圖像,。系統(tǒng)比較數(shù)字圖像并計(jì)算物體紋理特征的位移和變形,。該系統(tǒng)特別適合測(cè)量靜態(tài)和動(dòng)態(tài)載荷下的三維變形,用于分析實(shí)際組件的變形和應(yīng)變,。1 G) H; H- O9 s
   如果被測(cè)物體具有很少的紋理特征,,需要將表面處理成隨機(jī)散斑紋理,如下圖所示,,例如在物體表面噴黑色或白色的自噴漆,。4 h1 y. G. `) k7 t

- k. w/ I& P, ^  b, G  B/ v8 k               4 C7 O2 A% d5 \, s: [
     隨機(jī)圖案(Stochastic pattern)    帶有2像素重疊區(qū)域的15*15像素面片  ; k6 a& B' J) r4 k# `1 S* H& z! v- C

& g. D- I0 C9 y3 q% b    XJTUDIC三維數(shù)字散斑動(dòng)態(tài)應(yīng)變測(cè)量分析系統(tǒng),,采用數(shù)字圖像相關(guān)方法DIC(Digital Image Correlation),,結(jié)合雙目立體視覺(jué)技術(shù)。采用兩個(gè)高速攝像機(jī),,實(shí)時(shí)采集物體各個(gè)變形階段的散斑圖像,,利用圖像相關(guān)算法進(jìn)行物體表面變形點(diǎn)的立體匹配,并重建出匹配點(diǎn)的三維空間坐標(biāo),。對(duì)位移場(chǎng)數(shù)據(jù)進(jìn)行平滑處理和變形信息的可視化分析,,從而實(shí)現(xiàn)快速、高精度,、實(shí)時(shí),、非接觸式的三維應(yīng)變測(cè)量。
1 _$ C0 B4 G8 a% q   數(shù)字圖像相關(guān)(DIC)是一光測(cè)力學(xué)變形測(cè)量方法,,DIC又稱(chēng)為DSCM(Digital Speckle Correlation Method)或數(shù)字圖像散斑相關(guān)DISC(Digital Image Speckle Correlation ),。6 s* q# A+ e5 U2 W4 l. k. k
   數(shù)字圖像相關(guān)DIC的基本原理是通過(guò)圖像匹配的方法分析試件表面變形前后的散斑圖像,,來(lái)跟蹤試件表面上幾何點(diǎn)的運(yùn)動(dòng)得到位移場(chǎng),在此基礎(chǔ)上計(jì)算得到應(yīng)變場(chǎng),。在DIC算法中,,圖像匹配時(shí)常用圖像子區(qū)的相關(guān)性來(lái)表征同圖像上兩個(gè)子區(qū)的相似程度,因此該圖像子區(qū)常稱(chēng)為“相關(guān)窗”,,而DIC名字中也因此保留了“相關(guān)”這個(gè)名詞,。" y1 J+ g/ z' c7 @( `9 R/ e* }" W+ H
   
5 ?/ P% L5 Y3 f+ s) m   系統(tǒng)資料下載:簡(jiǎn)介---XJTUDIC三維數(shù)字散斑動(dòng)態(tài)變形測(cè)量分析系統(tǒng)(點(diǎn)擊查看)" j9 `4 ?) x7 l' L4 [% j! w* @# k, f
   國(guó)際發(fā)展:STRAIN期刊編輯社論(點(diǎn)擊查看)
' y0 G* y- E! D( m+ s7 k( u   應(yīng)用案例:拉伸試驗(yàn)三維全場(chǎng)應(yīng)變測(cè)量分析(點(diǎn)擊查看)
) w9 d+ z  q7 P# W9 ?8 N% r: S4 Y   應(yīng)用案例:鈦合金試件壓縮變形三維數(shù)字散斑試驗(yàn)(點(diǎn)擊查看) : N- t( D  S6 [! ?( M' n) I( u
   試驗(yàn)分析:XJTUDIC數(shù)字散斑系統(tǒng)與電子引申計(jì)比對(duì)試驗(yàn)
5 f4 L$ V% O5 W+ D8 {/ V- d$ \   技術(shù)分析:數(shù)字圖像相關(guān)技術(shù)DIC的發(fā)展和應(yīng)用(點(diǎn)擊查看)
4 B, L, J" W4 i   系統(tǒng)功能:總體功能、主要功能,、變形分析,、應(yīng)變分析、分析曲線,、報(bào)表功能,、截線分析、等勢(shì)線(點(diǎn)擊查看)
. s. s* q  ]1 L# h- v6 r( B# D  
0 W) ~9 ^( ]7 X: F- n1 ^9 S   
2 l! E3 J8 F( B- `# f3 N& \9 D" w  e8 X) C: c9 j3 c
一般測(cè)量步驟       計(jì)算步驟      顯示和編輯       輸出功能      視頻演示
% R4 U0 q; p3 e& [5 i
. k) L3 y0 P- t+ m, J7 Z4 n' r, ]! u1 Q 6 ~- g0 a- y% r, f( V
總體功能3 j) p9 n& o7 J5 E
  
% K1 V4 a) r3 Y9 K8 t% m1 l主要功能
% f0 [& ~+ J  _0 j  4 H" A2 i) r2 @/ f
變形分析; L& ]$ K% Z: }: s3 ?  q: W
  
. N" P9 i& w( o# M. Y' M應(yīng)變分析/ i: O+ V/ A: ]: A

( e- ~; L. s, K5 U% Y/ o. { : s' K8 `6 r# z% H9 S
分析曲線
  s6 {) a) G) g9 c) ?4 h1 W  ' h$ K. T) q/ `, n6 B8 ?. i" Y! o
報(bào)表
( f; t5 y! U1 F, g  5 c- [# W7 ^% Z1 G, \4 E# J
截線分析, N. e. J$ ?7 P
  3 R6 I; k2 l6 |' k. L3 w; R& V
等勢(shì)線分析
' Z( Y; a' D+ R" h* d 7 w3 J; \( k( c  E/ Z1 I6 V
/ O7 `& N. l" j8 L8 B
   
% J: v- p- g+ ^0 y7 w/ b# N " n' z* ?0 F/ {3 l- u5 E) U
! x+ Q; W9 _& a1 f5 x7 H
XJTUDIC系統(tǒng)硬件           各種應(yīng)變計(jì)算和分析功能   
! S+ K& Y; q( B9 m! p
; N- n$ R/ m) `4 {$ r# C, j4 l  / c4 J. }. @7 O- m$ H
3 L' G0 y9 C/ Y3 G! C8 Q

% S  p" c; |6 V0 I) i3 E   e' [9 Z9 G0 V$ _  X

' \) Y7 R- b6 e3 W- b/ E- [9 K; T% q, o- F- h. M$ e; M5 e( h

2 f# A. r# b# o7 o% j+ N3 L/ I7 c5 y+ \
. W  y8 Y5 h6 Z# l1 _% r- }
3 r& U" ?0 J  M+ H/ k* U" e3 q

6 r( y! O' l' D" i2 E6 S' F/ U0 J) A
功能特點(diǎn):$ n$ b& J1 V- k7 l9 E* M3 Q. O
6 M& L( E: C, \) |
由兩個(gè)工業(yè)相機(jī),、光源,、多功能控制器、計(jì)算機(jī)等組成,。
# x. W. y: V3 K5 o7 x$ m2 q多路A/D輸入,、多路D/A輸出、多路開(kāi)關(guān)量輸入和輸出,。
5 {9 Q3 P' y& ?7 ]- P可與各種試驗(yàn)機(jī)配合使用,,同步采集試驗(yàn)機(jī)的力、位移,、變形等數(shù)據(jù),。系統(tǒng)也可單獨(dú)使用。
+ l9 Z( [" ?$ E9 A實(shí)現(xiàn)二維,、三維全場(chǎng)應(yīng)變測(cè)量和分析,。
* b- \% l4 q7 S強(qiáng)大的處理功能:各種分析功能、各種坐標(biāo)轉(zhuǎn)換功能等,。3 O9 F2 f9 ], @2 o
系統(tǒng)在不同時(shí)刻圖像中自動(dòng)分配一一對(duì)應(yīng)的正方形或者矩形的面片,例如15*15像素的面片) N* g( I2 L. k* ~$ t1 s
簡(jiǎn)單的試件準(zhǔn)備,,試件表面只要求隨機(jī)或規(guī)則的圖案
4 l9 R. w$ T) {1 p大的測(cè)量范圍:采用同一個(gè)設(shè)備,既可測(cè)量小件也可以測(cè)量大件,,試件大小從1mm到2000mm,,變形的測(cè)量范圍從0.01%到幾個(gè)100%
; d  B8 V. }9 {  D9 Z1 ^8 k) Z高密度測(cè)量點(diǎn)的全場(chǎng)應(yīng)變測(cè)量,三維圖形顯示測(cè)量結(jié)果2 l$ ]5 ]9 ^) O
圖形化表示測(cè)量結(jié)果,,對(duì)試件性能提供最佳理解
! S1 f7 |) t# D7 v$ e各種坐標(biāo)轉(zhuǎn)換,,如3-2-1坐標(biāo)轉(zhuǎn)換/ v5 ?9 a9 j( I$ [: ?( Q. u+ V0 b
測(cè)量過(guò)程和結(jié)果數(shù)據(jù)報(bào)告的生成和輸出功能
  y3 u4 F; h3 e) b0 U. W用默認(rèn)或者自定義的顏色來(lái)表示計(jì)算和測(cè)量結(jié)果的顯示
, Z- b5 h) |' V6 D系統(tǒng)具有移動(dòng)方便,便于運(yùn)輸
* B1 p6 i; o* S : N. Y" }* K8 j

6 l  n. Z9 a# t! y, g應(yīng)用領(lǐng)域:  
. V* ~: S: g. q: Y( J5 P6 Z# ?" S% M/ [$ n/ r/ C6 q
應(yīng)變計(jì)算、強(qiáng)度評(píng)估,、組件尺寸測(cè)量,、非線性變化的檢測(cè)
5 l3 ?/ k# h  S. I8 z4 V" ^先進(jìn)材料(CFRP、木材,、 內(nèi)含PE的纖維,、金屬泡沫、橡膠等)
' I0 @7 T/ w# e  A零部件試驗(yàn)(測(cè)量位移,、應(yīng)變)
6 k9 A7 L! B  I% o0 b/ j- i3 J5 p材料試驗(yàn)( 楊氏模量,、泊松比、彈塑性的參數(shù)性能)9 X) S/ E8 Y9 q4 U" X6 h
生物力學(xué)(骨骼,、肌肉,、血管等)
. x$ g( \0 a" a3 K, d  g微觀形貌、應(yīng)變分析(微米級(jí),、納米級(jí))
; K8 _# ~9 i: `7 M; W斷裂力學(xué)性能) d0 B: ^1 D+ y: M8 S
有限元分析(FEA)驗(yàn)證/ d* Q9 C# B; y! i/ `7 @' X
動(dòng)力學(xué)測(cè)量(動(dòng)態(tài)測(cè)量,、瞬態(tài)測(cè)量); ]% |% I4 ^- Y9 Z0 n1 L- r
三維全場(chǎng)振動(dòng)分析( G. x& c4 J( @9 @: F
高速變形測(cè)量8 \6 L; C6 D8 |2 I& {' h
動(dòng)態(tài)應(yīng)變測(cè)量,如疲勞試驗(yàn)
& l9 \" _& K4 q4 f) f) [諧振,、沖擊和噪聲激勵(lì)
3 g/ V. p. J' a蠕變和老化過(guò)程的特性分析
  t# [$ G) X2 M成形極限曲線FLC測(cè)定! s" K% C$ N* ?" B
各種各向同性和各向異性材料變形特性0 M2 x! s, \3 d6 g2 ~9 Y7 ]; R
& x- X0 }" e' t5 ]9 Z7 [4 U: U
一般指標(biāo):
9 ?- K' c. l$ O! q0 v) D, K9 R
& s% D7 ~+ y9 }, f7 c% `, v測(cè)量面積  測(cè)量范圍可變:幾毫米~幾米,,典型尺寸為32×24×24 mm至4000×3750×3750 mm - R8 h, ~) H0 q3 Q& j. X
測(cè)量靈敏度   
3 I, b0 G5 V2 p3 z位移:可達(dá)視場(chǎng)的1/100000,取決于測(cè)量條件,。(當(dāng)視場(chǎng)為100mm時(shí)約為1μm)
) @! D  P9 e7 N) z& c2 w6 p& F! ~% j) x5 ]- a, T
應(yīng)變:典型值為0.01%  * Q/ R0 S% o9 L+ H) a
測(cè)量范圍  達(dá)到數(shù)倍100%應(yīng)變 3 x3 A. `& o4 {/ G
測(cè)量輸出  表面外形,,每個(gè)表面點(diǎn)的三維位移、應(yīng)變 ! h& J+ W) _/ d* i- C% w+ t
相機(jī)分辨率  有多種選擇,,100萬(wàn)像素~1100萬(wàn)像素
- j8 \  L% v3 y/ A. a/ Y5 i幀頻  10Hz~5000Hz
) y' e& t- Y2 x* @- [2 o標(biāo)定板  尺寸從32×24mm至4000×3750mm,,可根據(jù)用戶要求提供其他尺寸
! `8 j, x3 E5 j- @控制單元  計(jì)算機(jī)控制單元,集成的模擬數(shù)據(jù)采集與記錄輸入單元:多路A/D,、D/A,、開(kāi)關(guān)量輸入輸出數(shù)據(jù)采集通道,相機(jī)同步控制電源±0.05V~±10V,。  
  y# ^3 @7 ]; f9 f( \. y) E' M各種試驗(yàn)機(jī)接口 與各種試驗(yàn)機(jī)(如電子萬(wàn)能試驗(yàn)機(jī))無(wú)縫連接,,同步采集試驗(yàn)機(jī)的各種實(shí)時(shí)數(shù)據(jù),如拉力,、位移,、變形,、速度,、開(kāi)始、結(jié)束等,。 ( d" ^% g: \6 [& L
照明單元 采用LED冷光源均勻照射被測(cè)物表面,,以提高測(cè)量精度
- ?. \& ~4 l6 ?. {, M+ a! F% ~9 \0 \: n
" _+ Z/ x2 @! {. K- ]" s# I
/ C/ B8 `# P3 O: A
0 ]1 ~0 V6 W7 }$ e
用途:( ?. U& Q. e1 ?7 v" i2 ^

5 s3 H+ j- H9 q# q, c$ p XJTUDIC 三維數(shù)字散斑動(dòng)態(tài)變形測(cè)量分析系統(tǒng) 用于三維變形場(chǎng)測(cè)量,成為實(shí)驗(yàn)力學(xué)領(lǐng)域中一種重要的測(cè)試方法,其主要應(yīng)用有:0 M! j2 p- e* o
# m# T" s9 u$ r: `  ]) _6 S& i
可用于全場(chǎng)振動(dòng)測(cè)量,、動(dòng)態(tài)應(yīng)變測(cè)量,、高速變形測(cè)量、斷裂力學(xué),、沖擊激勵(lì)及動(dòng)態(tài)材料試驗(yàn)中測(cè)量材料特性參數(shù)等,。系統(tǒng)的靈活的設(shè)計(jì)使應(yīng)用范圍非常廣泛,包括從微電子或生物力學(xué)的顯微研究至航天,、航空,、汽車(chē)、艦船及鐵路工業(yè)領(lǐng)域的大尺寸零部件測(cè)量,。1 u! d6 h  `& U, h. u# U+ |. o

2 U/ a( g0 _* Q/ H1 Z) b* M   1) 在材料力學(xué)性能測(cè)量方面:可應(yīng)用于各種復(fù)雜材料的力學(xué)性能測(cè)試中,。如火箭發(fā)動(dòng)劑固體燃料、橡膠,、光纖,、壓電薄膜、復(fù)合材料以及木材,、巖石,、土方等天然材料的力學(xué)性能的檢測(cè)中。) a( z! I& U5 ]7 C' P8 m

0 o: |) p" P) U. F- k廣泛應(yīng)用于破壞力學(xué)研究中,,包括裂紋尖端應(yīng)變場(chǎng)測(cè)量,、裂紋尖端張開(kāi)位移測(cè)量以及高溫下裂紋尖端應(yīng)變場(chǎng)測(cè)量等。
$ ^* R0 F. ~! e5 B+ Q   2) 在細(xì)觀力學(xué)測(cè)量方面:借助于掃描電子顯微鏡(SEM),、掃描隧道電子顯微鏡(STEM)以及原子力顯微鏡(AFM).
2#
發(fā)表于 2010-7-16 17:25:31 | 只看該作者
學(xué)習(xí)了,,謝謝樓主分享!�,�,!

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