CMM測量之掃描簡述,一點(diǎn)拙見

sagw_beacon

CMM掃描測量的一個(gè)前提條件是CMM要配備掃描探頭，測量目的是在短時(shí)間內(nèi)采集大量的點(diǎn)。一般情況下,，對(duì)于圓度、直線度,、平面度,、輪廓度等形狀公差可以用CMM掃描測量。當(dāng)然,，碰到高精度的零件,，還是要用專業(yè)的圓度儀來測量圓度、直線度,、圓柱度等,。CMM掃描測量可以更好的的從宏觀上去認(rèn)識(shí)零件,，尋求元素的特性,。
! U3 K9 M0 @* I( uCMM掃描測量的另一用途是對(duì)于未知輪廓的探究。
* C0 v( d' `2 R& D+ X: d. [當(dāng)然,，CMM掃描測量是涉及較深的,、知識(shí)面廣（如高速掃描時(shí)對(duì)儀器數(shù)據(jù)可靠性的修正,、數(shù)據(jù)的濾波等），以上僅是一點(diǎn)點(diǎn)拙見,。
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finleyfeng

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