|
4#

樓主 |
發(fā)表于 2009-7-13 13:53:41
|
只看該作者
本帖最后由 easylife 于 2009-7-13 14:00 編輯 : ^8 p [# Q b. C
# b& I1 R+ w6 ]" Z6 c& g
2. 概率統(tǒng)計(jì)法.. z T! D5 r0 R- K+ R
又名RSS (Root Sum Squares), 針對大批量在SPC(統(tǒng)計(jì)過程控制)下生產(chǎn)的零件組成的裝配體,,可以根據(jù)概率的相關(guān)知識(shí)進(jìn)行分析,。大批量SPC生產(chǎn)的零件都服從正態(tài)分布,一般為3西格瑪?shù)姆植肌?font class="jammer">. Z( J# i% Y+ z8 T
, ` L# Z7 n, ^# t+ E$ A9 ^* y+ {分析第一步是將各個(gè)公差都轉(zhuǎn)化成兩側(cè)對稱的形式---但有個(gè)棘手問題,,若一小孔由標(biāo)準(zhǔn)鉆頭鉆出,,設(shè)計(jì)者一般會(huì)標(biāo)為直徑尺寸.125 +.005/-.001英寸,,因?yàn)樗胗脴?biāo)準(zhǔn)鉆頭加工,此標(biāo)注方式為相關(guān)鉆孔加工文獻(xiàn)的建議值,。問題是我們是否可以直接將其轉(zhuǎn)化為.127 ±.003英寸,? 也就是說是用.125英寸鉆頭加工孔時(shí),其大批量樣品尺寸分布是否是以.127英寸為中值的正態(tài)分布,?: T) u9 i G# ^* v* ~1 l
...
+ F$ Q5 m4 E6 ]
0 J- c& Y6 i( N# ~& s/ E" z2 p此分析方法是適用于眾多采用SPC大批量生產(chǎn)的零件, / H y, ]# x. ^
如常見電子產(chǎn)品,,硬盤,手機(jī),,相機(jī),。/ B* d9 S: @5 T* B7 W
零件不需要全檢,而是通過SPC進(jìn)行控制,,生產(chǎn)中和出貨,,裝配前進(jìn)行抽檢判斷總體的質(zhì)量情況。2 A! [8 ]" K7 X. v5 S3 K8 }
這種公差分析方法允許單個(gè)零件尺寸公差比極限法的大,,因此成本相對較低,。( H% ^2 V8 F+ {' R) O
另外的分析方法還有6西格瑪原則,最小成本分配(Min cost allocation),,權(quán)重因素(weight factor)等.. |
|